发明名称 半导体基板制造方法
摘要 本发明提供一种半导体基板制造方法,本发明的第1技术方案的半导体基板制造方法,其特征在于,该半导体基板制造方法包含:准备基底基板的准备工序;在上述基底基板上叠层至少2层多重层的叠层工序,该多重层包含剥离层及半导体层;分离上述半导体层的分离工序。
申请公布号 CN101248221A 申请公布日期 2008.08.20
申请号 CN200680030873.0 申请日期 2006.08.24
申请人 东北技术使者株式会社 发明人 八百隆文;曹明焕
分类号 C30B29/38(2006.01);C23C16/01(2006.01);C23C16/34(2006.01);H01L21/205(2006.01);H01L21/338(2006.01);H01L29/778(2006.01);H01L29/812(2006.01);H01L33/00(2006.01);H01S5/323(2006.01) 主分类号 C30B29/38(2006.01)
代理机构 北京林达刘知识产权代理事务所 代理人 刘新宇;张会华
主权项 1.一种半导体基板制造方法,其特征在于,该半导体基板制造方法包含:准备工序,其准备基底基板;叠层工序,其在上述基底基板上叠层至少2个包含剥离层及半导体层的多重层;分离工序,其分离上述半导体层。
地址 日本宫城县