发明名称 |
半导体基板制造方法 |
摘要 |
本发明提供一种半导体基板制造方法,本发明的第1技术方案的半导体基板制造方法,其特征在于,该半导体基板制造方法包含:准备基底基板的准备工序;在上述基底基板上叠层至少2层多重层的叠层工序,该多重层包含剥离层及半导体层;分离上述半导体层的分离工序。 |
申请公布号 |
CN101248221A |
申请公布日期 |
2008.08.20 |
申请号 |
CN200680030873.0 |
申请日期 |
2006.08.24 |
申请人 |
东北技术使者株式会社 |
发明人 |
八百隆文;曹明焕 |
分类号 |
C30B29/38(2006.01);C23C16/01(2006.01);C23C16/34(2006.01);H01L21/205(2006.01);H01L21/338(2006.01);H01L29/778(2006.01);H01L29/812(2006.01);H01L33/00(2006.01);H01S5/323(2006.01) |
主分类号 |
C30B29/38(2006.01) |
代理机构 |
北京林达刘知识产权代理事务所 |
代理人 |
刘新宇;张会华 |
主权项 |
1.一种半导体基板制造方法,其特征在于,该半导体基板制造方法包含:准备工序,其准备基底基板;叠层工序,其在上述基底基板上叠层至少2个包含剥离层及半导体层的多重层;分离工序,其分离上述半导体层。 |
地址 |
日本宫城县 |