发明名称 |
半导体器件及其制造方法 |
摘要 |
第一半导体芯片21配置在芯片装载构件11上,利用第一绝缘粘接剂21覆盖固定与第一半导体芯片21的电极焊盘21E连接的键合线36。一种半导体器件,其特征在于,中间隔着第一绝缘粘接剂31,将第二半导体芯片22层叠配置在第一半导体芯片21上。由此,在层叠安装芯片时,能够防止衬底正上方的芯片的键合线发生断线或者短路等问题。 |
申请公布号 |
CN101248526A |
申请公布日期 |
2008.08.20 |
申请号 |
CN200680030790.1 |
申请日期 |
2006.08.23 |
申请人 |
富士通株式会社 |
发明人 |
西村隆雄;成泽良明 |
分类号 |
H01L25/065(2006.01);H01L25/07(2006.01);H01L25/18(2006.01) |
主分类号 |
H01L25/065(2006.01) |
代理机构 |
隆天国际知识产权代理有限公司 |
代理人 |
张龙哺;冯志云 |
主权项 |
1.一种半导体器件,其特征在于,具有:芯片装载构件;第一半导体芯片,其配置在所述芯片装载构件上;键合线,其与所述第一半导体芯片的电极焊盘连接;第一绝缘粘接剂,其选择性地覆盖所述电极焊盘和所述键合线之间的连接部;第二半导体芯片,其中间隔着所述第一绝缘粘接剂配置在所述第一半导体芯片上。 |
地址 |
日本神奈川县 |