发明名称 controlar comportamento eletromecãnico de estruturas em um dispositivo de sistemas microeletromecánicos
摘要 "CONTROLAR COMPORTAMENTO ELETROMECáNICO DE ESTRUTURAS EM UM DISPOSITIVO DE SISTEMAS MICROELETROMECáNICOS". Em uma modalidade, a invenção provê um método para fabricar um dispositivo de sistemas microeletromecânicos. O método compreende fabricar uma primeira camada compreendendo um filme tendo uma resposta eletromecânica característica, e uma resposta óptica característica, onde a resposta óptica característica é desejável e a resposta eletromecânica característica é indesejável; e modificar a resposta eletromecânica característica da primeira camada ao reduzir pelo menos o acúmulo de carga sobre a mesma durante ativacão do dispositivo de sistemas microeletromecânicos.
申请公布号 BRPI0516020(A) 申请公布日期 2008.08.19
申请号 BR2005PI16020 申请日期 2005.08.30
申请人 IDC, LLC 发明人 MARK W. MILLES;JOHN BATEY;CLARENCE CHUI;MANISH KOTHARI;MING-HAU TUNG
分类号 G02B26/00 主分类号 G02B26/00
代理机构 代理人
主权项
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