发明名称 缺陷检查装置及缺陷检查方法
摘要 摄影部(3)对被检查对象物进行摄影,产生摄影资讯。影像取得部(4)根据摄影资讯,产生被检查对象物之影像。缺陷撷取部(5)使用所产生之影像,撷取被检查对象物上之缺陷。缺陷检查部(6)对所撷取之缺陷进行检查,产生每一检查条件之检查结果。基板检查结果产生部(10)根据有关缺陷之资讯,对每一检查条件之检查结果加权后,再将每一检查条件之检查结果统合。藉此,可提供一种容易进行基板的良劣判定,且可提升制程整体之产量之缺陷检查装置及缺陷检查方法。
申请公布号 TW200834059 申请公布日期 2008.08.16
申请号 TW096146522 申请日期 2007.12.06
申请人 奥林巴斯股份有限公司 发明人 堀内一仁
分类号 G01N21/88(2006.01);H01L21/66(2006.01) 主分类号 G01N21/88(2006.01)
代理机构 代理人 恽轶群;陈文郎
主权项
地址 日本