发明名称 穿透式光散射效应之侦测方法及其装置
摘要 本案系一种穿透式光散射效应之侦测方法,其包括:以至少一光源所散发之光束穿透一透明介质外表面之一散射元件之粗糙表面,而产生一定分布之穿透及反射散射光,并以一光学探测器蒐集由透明介质中以反射散射光形式传回来的光强度响应值,以便与所设定的响应值相比较,而判断透明介质表面杂质的多寡,以作为讯号控制或传输的依据。尤有进者,本案进一步提供一种穿透式光散射效应之侦测装置。
申请公布号 TW200834058 申请公布日期 2008.08.16
申请号 TW096104275 申请日期 2007.02.06
申请人 明志科技大学 发明人 王良原;蔡训;冯慧平;张廷宇;许煜政;王浩伟
分类号 G01N21/47(2006.01);B60S1/04(2006.01) 主分类号 G01N21/47(2006.01)
代理机构 代理人 林文烽
主权项
地址 台北县泰山乡贵子村工专路84号