| 摘要 |
一种晶片测试分类机，包含设于机台前端之供料匣、收料匣及空匣，该供料匣系可承置待测之晶片以供取料，收料匣系可承置完测之晶片用以收料，空匣则可接收供料匣处之空料盘或补充收料匣处所需之空料盘，另于机台后端设有复数个具测试器、探针卡及定位治具之测试装置，用以执行晶片测试作业，一移载装置系移载于供料匣、收料匣及测试装置间，用以移载待测及完测之晶片，以及于供料匣、收料匣及空匣间自动化移载及补充空料盘；藉此，利用各装置之时序搭配作动，而可于各晶片完成切割后执行测试作业，并立即依测试结果迅速分类收置，达到确保测试品质，并有效提升作业便利性及产能之使用效益。 |
