发明名称 CIRCUIT INTEGRE, PROCEDE DE TEST, DISPOSITIF ET PROGRAMME D'ORDINATEUR CORRESPONDANTS
摘要 L'invention concerne un circuit intégré comprenant au moins une entrée externe, une alimentation, et une pluralité de composants élémentaires, présentant chacun au moins une entrée interne et au moins une sortie interne.Selon l'invention, un tel circuit comprend au moins une unité de test comprenant une porte ET, dont chaque entrée est connectée à une sortie interne d'un desdits composants élémentaires et dont la sortie est reliée à ladite alimentation, via une résistance.
申请公布号 FR2912551(A1) 申请公布日期 2008.08.15
申请号 FR20070001094 申请日期 2007.02.13
申请人 COMPAGNIE INDUSTRIELLE ET FINANCIERE D'INGENIERIE"INGENICO" SOCIETE ANONYME 发明人 NACCACHE DAVID
分类号 H01L27/00;G01R31/28;H03K19/003 主分类号 H01L27/00
代理机构 代理人
主权项
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