摘要 |
L'invention concerne un circuit intégré comprenant au moins une entrée externe, une alimentation, et une pluralité de composants élémentaires, présentant chacun au moins une entrée interne et au moins une sortie interne.Selon l'invention, un tel circuit comprend au moins une unité de test comprenant une porte ET, dont chaque entrée est connectée à une sortie interne d'un desdits composants élémentaires et dont la sortie est reliée à ladite alimentation, via une résistance.
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