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Ein Verfahren zum Auswählen von redundanten Speicherzellen in Relation zu Reparatursicherungskästen in einem Halbleiterspeicher, der ein Hauptspeicherarray, redundante Speicherzellen und eine Mehrzahl von Reparatursicherungskästen aufweist, das ein Testen von redundanten Speicherzellen, um zu bestimmen, ob dieselben gültig oder defekt sind, und ein Vornehmen einer Auswahl von redundanten Speicherzellen, die gültige redundante Speicherzellen jeweiligen Reparatursicherungskästen zuteilt, aber keine defekten redundanten Speicherzellen zu Reparatursicherungskästen zuteilt, aufweist.
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