发明名称 MEASURING INSTRUMENT AND METHOD FOR DETERMINING GEOMETRIC PROPERTIES OF PROFILED ELEMENTS
摘要 <p>Messvorrichtung zur Ermittlung geometrischer Eigenschaften eines Profiles mit - einer Vorrichtung, die mindestens einen ersten (7) und einen zweiten (8) Lichtstrahl erzeugt, wobei die Strahlenrichtung des ersten Lichtstrahls unterschiedlich zu der Strahlenrichtung des zweiten Lichtstrahls ist, - einer retroref lektierende Oberfläche (3), die relativ zur Lichtquelle so angeordnet ist, daß beide Lichtstrahlen zumindest teilweise auf die retroref lektierende Oberfläche auftreffen, einer Aufnahmevorrichtung (14), die die Lichtintensitätsverteilung zumindest eines Teils des von der retroref lektierenden Oberfläche reflektierten Lichtstrahls des ersten Lichtstrahls und zumindest eines Teils des von der/einer retroref lektierenden Oberfläche reflektierten Lichtstrahls des zweiten Lichtstrahls über deren Quererstreckung ermitteln kann.</p>
申请公布号 WO2008095733(A1) 申请公布日期 2008.08.14
申请号 WO2008EP01007 申请日期 2008.02.11
申请人 TEZET TECHNIK AG;KNOBEL, BRUNO;FINDEISEN, CHARLES;LEISTRITZ, KLAUS 发明人 KNOBEL, BRUNO;FINDEISEN, CHARLES;LEISTRITZ, KLAUS
分类号 G01B11/24 主分类号 G01B11/24
代理机构 代理人
主权项
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