发明名称 | 在硅片上生长微米级块状结构的氧化铟薄膜的方法 | ||
摘要 | 一种在硅片上生长微米级块状结构的氧化铟(In<SUB>2</SUB>O<SUB>3</SUB>)薄膜的方法,属于光电子材料和半导体材料及其制备的技术领域。在大气压强和没有催化剂的条件下,用热蒸发工艺蒸发氧化铟-石墨混合物中的氧化铟,通过氧化铟蒸汽在硅片上的沉积,在硅片上生长大面积的微米级块状结构的氧化铟薄膜。有以下特点:对设备的要求低,压力只需要是常压,对载气的要求不高,只需要N<SUB>2</SUB>,和方法简单、成本低、重复性好,且能在硅片上大面积生长微米级块状结构的氧化铟。特别适于作为阴极材料用在场发射微电子器件中。 | ||
申请公布号 | CN101239843A | 申请公布日期 | 2008.08.13 |
申请号 | CN200810034703.0 | 申请日期 | 2008.03.17 |
申请人 | 华东师范大学 | 发明人 | 王青艳;郁可;朱兵;徐丰;朱自强 |
分类号 | C04B41/45(2006.01) | 主分类号 | C04B41/45(2006.01) |
代理机构 | 上海德昭知识产权代理有限公司 | 代理人 | 程宗德;石昭 |
主权项 | 1、一种依附在硅片上的微米级块状结构的氧化铟薄膜,该薄膜的单块块状结构的长度、宽度和高度分别介于2μm~5μm、1μm~2μm和0.8μm~1.2μm。 | ||
地址 | 200241上海市东川路500号 |