发明名称 在硅片上生长微米级块状结构的氧化铟薄膜的方法
摘要 一种在硅片上生长微米级块状结构的氧化铟(In<SUB>2</SUB>O<SUB>3</SUB>)薄膜的方法,属于光电子材料和半导体材料及其制备的技术领域。在大气压强和没有催化剂的条件下,用热蒸发工艺蒸发氧化铟-石墨混合物中的氧化铟,通过氧化铟蒸汽在硅片上的沉积,在硅片上生长大面积的微米级块状结构的氧化铟薄膜。有以下特点:对设备的要求低,压力只需要是常压,对载气的要求不高,只需要N<SUB>2</SUB>,和方法简单、成本低、重复性好,且能在硅片上大面积生长微米级块状结构的氧化铟。特别适于作为阴极材料用在场发射微电子器件中。
申请公布号 CN101239843A 申请公布日期 2008.08.13
申请号 CN200810034703.0 申请日期 2008.03.17
申请人 华东师范大学 发明人 王青艳;郁可;朱兵;徐丰;朱自强
分类号 C04B41/45(2006.01) 主分类号 C04B41/45(2006.01)
代理机构 上海德昭知识产权代理有限公司 代理人 程宗德;石昭
主权项 1、一种依附在硅片上的微米级块状结构的氧化铟薄膜,该薄膜的单块块状结构的长度、宽度和高度分别介于2μm~5μm、1μm~2μm和0.8μm~1.2μm。
地址 200241上海市东川路500号