发明名称 光学系统光轴与其安装基面垂直度的检测方法
摘要 一种属于光学仪器检测技术领域的光学系统光轴与其安装基面垂直度的检测方法:将被测光学系统置于调平台上的精密转台上,其上方架设一台平行光管,通过转动精密转台和调整调平台使平行光管与精密转台轴线相平行;精密转台上平面反射镜的上方架设自准直仪,使自准直仪与平面反射镜自准成像,记录自准直仪的方位角度;调整调平台至电丝的像与平行光管丝的像重合,读取自准直仪的方位角度;计算被测光学系统光轴与安装基面不垂直度误差。本发明可广泛应用于航天、航空光学系统光轴与其安装基面垂直度的检验。
申请公布号 CN100410642C 申请公布日期 2008.08.13
申请号 CN200510016792.2 申请日期 2005.05.18
申请人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 发明人 叶露;刘则洵;韩冰
分类号 G01M11/00(2006.01);G01M11/02(2006.01);G01B11/27(2006.01) 主分类号 G01M11/00(2006.01)
代理机构 长春菁华专利商标代理事务所 代理人 南小平
主权项 1. 一种光学系统光轴与其安装基面垂直度的检测方法,其特征在于采用下列步骤:(a)在调平台(3)上放置精密转台(2),被测光学系统(1)放置在精密转台(2)上;(b)在精密转台(2)的正上方架设一台平行光管(4),平行光管(4)的焦面上放置十字丝分划板,被测光学系统(1)的镜头对准平行光管(4),使平行光管(4)焦面上的十字丝经被测光学系统(1)形成的图像显示在监视器上,同时电十字丝图像显示在监视器中心;(c)转动精密转台(2),在监视器上观察电十字丝的像与平行光管(4)十字丝的像的相对位置的变化,当这两个像之间有相对的位移,则精密转台(2)的回转轴线与平行光管(4)的光轴不平行,调整调平台(3)使精密转台(2)的回转轴线与平行光管(4)的光轴平行,此时电十字丝的像与平行光管(4)十字丝的像没有相对位移;(d)将一块平面反射镜(6)放置在精密转台(2)上,平面反射镜(6)的正上方架设自准直仪(5),使自准直仪(5)与平面反射镜(6)自准成像,记录自准直仪(5)的方位角度,即平面反射镜(6)法线与自准直仪(5)光轴的夹角α;(e)调整调平台(3),使被测光学系统(1)的光轴与平行光管(4)的光轴重合,在监视器上观察电十字丝的像与平行光管(4)十字丝的像重合,读取自准直仪(5)的方位角度,即此时平面反射镜(6)的法线与自准直仪(5)光轴的夹角β;(f)计算被测光学系统(1)光轴与安装基面不垂直度误差δ=β-α。
地址 130031吉林省长春市东南湖大路16号
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