发明名称 光能测量装置以及配置了该装置的光信号接收装置
摘要 光能测量装置以及配置了该装置的光信号接收装置,增加了动态范围。电压检出电路(4)以及放大电路(5)给运算装置(9)提供第1信号E-mon1,其是与受光元件(PD)1中的电流成比例的电压,DC检波电路(6)以及放大电路(7)给运算装置(9)提供第2信号E-mon2,其由包络线检波PD1中的电流成比例的TIA3的电压后获得。运算装置(9)对比第1信号的电平和规定的设定值之后,在第1信号电平为设定值以上的情况下,选择根据第1信号获得的光能值,小于情况下,选择根据第2信号获得的光能值,将此作为测量光能值Pout输出。可给外部装置提供TIA3的信号输出OUT,因此既具有光信号接收装置的功能,又可测量光能值。
申请公布号 CN101241025A 申请公布日期 2008.08.13
申请号 CN200810004853.7 申请日期 2008.02.04
申请人 杰卡尔技术株式会社;利达电子株式会社 发明人 杉山晃一;山内圣司;汤山千鹤;中村友哉;佐佐木健司
分类号 G01J1/42(2006.01);G01J1/44(2006.01);G01D3/024(2006.01) 主分类号 G01J1/42(2006.01)
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 杜日新
主权项 1、一种测量由受光元件接收的光强度调制信号构成的光信号的光能电平的光能测量装置,其特征在于,具有:第1输出装置,其输出电压构成的第1信号,该电压与受光元件中的电流成比例;第2输出装置,其将受光元件中的电流用变压器阻抗耦合放大器变换为电压后作为第2信号输出;第1运算装置,其接收第1信号,运算与该信号对应的光能电平;第2运算装置,其接收第2信号,运算与该信号对应的光能电平;选择装置,其接收第1信号,对比第1信号电平与规定的设定值之后,当第1信号电平为设定值以上的情况下选择第1运算装置的输出,小于情况下选择第2运算装置的输出,将此作为光能测量值输出。
地址 日本神奈川