| 发明名称 | 半导体器件和测试半导体器件的方法 | ||
| 摘要 | 一种半导体器件，包括：第一存储器；以及第二存储器。第一存储器包括：第一存储器单元阵列，其被配置以被分成多个扇区；擦除时间设置寄存器，其被配置以保持扇区擦除保证时间，以确保用于擦除存储在一个扇区中的数据的擦除时间；以及第一控制电路，其被配置以执行扇区擦除测试，其中在扇区擦除保证时间内擦除在从多个扇区中选择的至少一个所选扇区中存储的数据。第二存储器包括：第二存储器单元阵列，其被配置以具有不同于第一存储器单元阵列的数据存储系统；以及第二控制电路，其被配置以在执行扇区擦除测试的同时对于第二存储器单元阵列执行数据保持测试。 | ||
| 申请公布号 | CN101241751A | 申请公布日期 | 2008.08.13 |
| 申请号 | CN200810009733.6 | 申请日期 | 2008.02.13 |
| 申请人 | 恩益禧电子股份有限公司 | 发明人 | 桥本洁和;常定信利 |
| 分类号 | G11C7/10(2006.01);G11C29/12(2006.01);G11C16/10(2006.01) | 主分类号 | G11C7/10(2006.01) |
| 代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 关兆辉;陆锦华 |
| 主权项 | 1.一种半导体器件，包括：第一存储器；以及第二存储器，其中所述第一存储器包括：第一存储器单元阵列，其被配置以被分成多个扇区；擦除时间设置寄存器，其被配置以保持扇区擦除保证时间，以确保用于擦除存储在一个扇区中的数据的擦除时间；以及第一控制电路，其被配置以执行扇区擦除测试，其中在该扇区擦除测试中，在所述扇区擦除保证时间内擦除在从所述多个扇区中选择的至少一个所选扇区中存储的数据，其中所述第二存储器包括：第二存储器单元阵列，其被配置以具有不同于所述第一存储器单元阵列的数据存储系统；以及第二控制电路，其被配置以在执行所述扇区擦除测试的同时对于所述第二存储器单元阵列执行数据保持测试。 | ||
| 地址 | 日本神奈川 | ||