根据完全米勒矩阵测量值确定液晶单元参数的方法和装置

摘要

本发明公开了一种用于测试LCD板的方法和装置。可以将受测LCD板(30)安装到偏振态发生器(10)与偏振态分析器(16)之间的可平移的台面(40)上。对于受测单元(30)上的每个位置，多种已知的偏振态(22)被发射穿过LCD单元(30)，并且被偏振态分析器(16)检测。计算机获取表示偏振态的电信号。在计算机内，根据LCD单元(30)的物理参数被认为是什么的估计而开发LCD单元(30)的偏振属性的模型。通过迭代地精化建模的物理单元属性，使得模拟的偏振属性与所测量的偏振属性之间的RMS差最小化，此时可以推导出LCD单元的单元厚度和其他物理参数。

主权项

1.一种用于确定表示受测液晶单元质量的至少一个物理参数的方法，包括：A)测量所述受测液晶单元(14、30)的偏振属性，B)在计算机处理设备(18)中，开发液晶单元的模型(58、60)，所述模型(58、60)使用一个或多个估计的物理参数来为所述受测液晶单元进行建模，C)调整所述液晶单元(14、30)的所述模型(58、60)的所述一个或多个估计的物理参数的值，直到在液晶单元的所述模型(58、60)的计算偏振属性与所述受测液晶单元(14、30)的所测得的所述偏振属性之间获得接近匹配为止，D)根据液晶单元的接近匹配的所述模型(58、60)提供对于所述受测液晶单元(14、30)的质量的表示(62，图10，图11)。