发明名称 | 测试区的模压式电子组件测试器 | ||
摘要 | 本发明是一种测试区的模压式电子组件测试器,所述的测试区包含有供料载具、收料载具、模压式测试器与移料机构,其中,所述的模压式测试器是设有上、下配合的压件与承座,并在压件与承座间设有一导移组,所述的压件是由驱动源驱动作升降位移,而承座则配设至少一连结测试板的测试座,所述的测试器的导移组是一导孔导柱组,所述的导孔导柱组在承座上设有至少一套置弹簧的导柱,并在压件相对应承座导柱位置设有导孔。如此,所述的模压式测试器是以上、下合模方式,令压件保持较佳的水平度以平整压抵电子组件,使电子组件与测试座相对应的各接脚与接点均确实接触,以精确执行测试作业,达到提升测试质量的实用效益。 | ||
申请公布号 | CN101236229A | 申请公布日期 | 2008.08.06 |
申请号 | CN200710002809.8 | 申请日期 | 2007.02.01 |
申请人 | 鸿劲科技股份有限公司 | 发明人 | 黄荣裕 |
分类号 | G01R31/01(2006.01) | 主分类号 | G01R31/01(2006.01) |
代理机构 | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 孙皓晨 |
主权项 | 1. 一种测试区的模压式电子组件测试器,所述的测试区包含:供料载具:用来承置待测的电子组件;收料载具:用来承置完测的电子组件;移料器:用来移载电子组件;其特征在于:所述的模压式电子组件测试器设有上、下配合的压件与承座,并在压件与承座间设有相互配合的导移组,另所述的压件是由驱动源驱动作升降位移,而承座则配设有至少一连结测试板的测试座。 | ||
地址 | 中国台湾 |