发明名称 |
超痕量芳香族爆炸性硝基化合物的电化学检测方法 |
摘要 |
本发明涉及超痕量芳香族爆炸性硝基化合物的检测技术,特别是涉及敏感性材料二氧化硅修饰工作电极的电化学伏安方法实现对超痕量芳香族爆炸性硝基化合物的电化学快速检测方法。本发明重在二氧化硅对芳香族爆炸性硝基化合物电化学敏感性能的发现,以及敏感材料修饰工作电极的电化学伏安方法应用于超痕量芳香族爆炸性硝基化合物快速检测技术。利用本发明不仅可以使芳香族爆炸性硝基化合物的检测装置简易化,而且通过二氧化硅材料对电解质溶液中或气体中的芳香族爆炸性硝基化合物的吸附作用可以快速地完成检测过程,使该检测过程瞬间完成,并且由于敏感性材料应用于电化学伏安检测技术,二者的巧妙结合极大程度上提高了检测的灵敏度。 |
申请公布号 |
CN100409007C |
申请公布日期 |
2008.08.06 |
申请号 |
CN200510086236.2 |
申请日期 |
2005.08.17 |
申请人 |
中国科学院化学研究所 |
发明人 |
万立骏;张洪霞 |
分类号 |
G01N27/48(2006.01);G01N27/28(2006.01) |
主分类号 |
G01N27/48(2006.01) |
代理机构 |
上海智信专利代理有限公司 |
代理人 |
李柏 |
主权项 |
1. 一种超痕量芳香族爆炸性硝基化合物的电化学检测方法,其特征是:用电化学伏安法,采用对芳香族爆炸性硝基化合物敏感的二氧化硅材料修饰的电极作为工作电极,对电解质溶液中的超痕量的芳香族爆炸性硝基化合物进行快速检测;通过二氧化硅材料对电解质溶液中的芳香族爆炸性硝基化合物的吸附作用,完成电解质溶液中的芳香族爆炸性硝基化合物的快速检测过程,并根据检测得到的伏安曲线中芳香族爆炸性硝基化合物的特征还原峰的位置,定性判断芳香族爆炸性硝基化合物的存在;或用电化学伏安法,采用对芳香族爆炸性硝基化合物敏感的二氧化硅材料修饰的电极作为固体工作电极,将固体电解质暴露于含芳香族爆炸性硝基化合物气体的环境中,对气体中的超痕量的芳香族爆炸性硝基化合物进行快速检测;通过二氧化硅材料对气体中的芳香族爆炸性硝基化合物的吸附作用,完成气体中的芳香族爆炸性硝基化合物的快速检测过程,并根据检测得到的伏安曲线中芳香族爆炸性硝基化合物的特征还原峰的位置,定性判断芳香族爆炸性硝基化合物的存在。 |
地址 |
100080北京市海淀区中关村北一街2号 |