基于现场可编程门阵列芯片的155M比特误码分析测试仪

摘要

本发明公开了一种基于现场可编程门阵列芯片的155M比特误码分析测试仪，涉及光通信仪器仪表测试领域中一种误码分析测试仪；本发明通过现场可编程门阵列来实现伪随机码序列的发送、接收和误码检测计数，从而方便、快速、准确地进行误码分析测试。由被测试设备(A)、时钟数据提取恢复芯片(B)、时钟合成芯片(C)、现场可编程门阵列芯片(D)、单片机(E)、液晶显示屏、误码指示灯(F)、薄膜键盘(G)、串口通信接口(H)组成；现场可编程门阵列芯片主要包括发送模块、接收模块、计数模块。本发明结构紧凑、便携方便、稳定性好、操作简便，适合于通信系统的性能测试，也方便在工程现场测试。

主权项

1. 一种基于现场可编程门阵列芯片的155M比特误码分析测试仪，其特征在于由被测试设备(A)、时钟数据提取恢复芯片(B)、时钟合成芯片(C)、现场可编程门阵列芯片(D)、单片机(E)、液晶显示屏、误码指示灯(F)、薄膜键盘(G)、串口通信接口(H)组成；其连接关系是：液晶显示屏、误码指示灯(F)、薄膜键盘(G)、串口通信接口(H)分别与单片机(E)连接；被测试设备(A)、时钟数据提取恢复芯片(B)、时钟合成芯片(C)、单片机(E)分别与现场可编程门阵列芯片(D)连接；现场可编程门阵列芯片(D)包括：①发送模块(Da)根据单片机(E)传递的参数控制时钟合成芯片(C)，以时钟合成芯片(C)输出的频率为时钟信号，以时钟合成芯片(C)的频率锁定信号为使能信号发送测试码型，即信源数据；②接收模块(Db)时钟数据提取恢复芯片(B)接收通信系统输出的比特流，恢复接收模块(Db)所需要的时钟和数据；由时钟数据提取恢复芯片(B)恢复的时钟将由时钟数据提取恢复芯片(B)恢复的数据与本地产生的同步比特流逐位进行比较；比较的同时，根据瞬间误码率来判定是否伪同步，及根据10-3、10-6误码率判定是否需要告警信号丢失、误码指示灯、触发接收端复位；输入数据依次填充入缓存后，以时钟数据提取恢复芯片(B)提取的时钟频率触发本地伪随机码序列，逐位比较后，将比较结果传递给计数模块(Dc)；③计数模块(Dc)根据比较结果产生2个数组，总位数和误码数；并根据单片机(E)的指令回传测试数据。