发明名称 半导体结构及其制造方法
摘要 本发明披露一种半导体结构及其制造方法。该半导体结构包含一第一信号层、一第二信号层、一导线层以及至少一导孔。该导线层形成于该第一信号层以及该第二信号层之间,而导线层上的第一端点以及第二端点间设置有一导线。至少一导孔用以导通第一信号层以及第二信号层。其中,该至少一导孔趋近于第一端点以及第二端点而设置。
申请公布号 CN101236951A 申请公布日期 2008.08.06
申请号 CN200810083890.1 申请日期 2008.03.11
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 黄志亿;吴志伟
分类号 H01L23/498(2006.01);H01L23/538(2006.01);H01L21/48(2006.01);H01L21/768(2006.01);H01P3/08(2006.01);H01P11/00(2006.01) 主分类号 H01L23/498(2006.01)
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 陶凤波
主权项 1、一种半导体结构,包含:一第一信号层;一第二信号层;一导线层,形成于该第一信号层以及该第二信号层之间,该导线层上的第一端点以及第二端点间设置有一导线;以及至少一导孔,用以导通该第一信号层以及该第二信号层;其中,该至少一导孔趋近于该第一端点以及该第二端点而设置。
地址 中国台湾高雄市
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