发明名称 |
等离子显示屏保护膜材料性能测试方法及系统 |
摘要 |
本发明针对目前等离子显示屏保护膜材料电子发射性能测试方法对设备要求过高,价格过于昂贵且信噪比不高等问题,公开了一种等离子显示屏保护膜材料性能测试方法及系统,它包括:在电子束蒸发镀膜机的真空室(1)中用电子枪(2)发射高能电子束(3)轰击置于水冷坩埚(4)中的保护膜材料(5),使其发射出特定波长的紫外光(6),紫外传输光纤(7)通过一个紫外光采集窗口(8)收集该紫外光(5),并传输至光谱分析仪(12)上,由光谱分析仪(12)连接的个人电脑(13)给出当前材料的电子束激发光谱,从而分析该材料性能。本发明具有方法可靠,结构简单,有利于降低测试成本。 |
申请公布号 |
CN101236165A |
申请公布日期 |
2008.08.06 |
申请号 |
CN200810018643.3 |
申请日期 |
2008.03.07 |
申请人 |
南京华显高科有限公司 |
发明人 |
孙青云;朱立锋;王保平;张雄;林青园 |
分类号 |
G01N23/22(2006.01) |
主分类号 |
G01N23/22(2006.01) |
代理机构 |
南京天华专利代理有限责任公司 |
代理人 |
夏平;瞿网兰 |
主权项 |
1、一种等离子显示屏保护膜材料性能测试方法,其特征是首先将待测试保护膜置于电子束蒸发镀膜机的真空室中的坩埚中,其次,用电子枪发射的高能电子束激发被置于坩埚中的保护膜材料使其发射特定波长的紫外线,第三,用光纤通过一个紫外线收集窗口收集该紫外线并传输到光谱分析仪上,最后,由光谱分析仪将测试结果进行分析并输出。 |
地址 |
210061江苏省南京市高新开发区商务办公楼413室 |