发明名称 |
读写头控制装置、存储装置和接触检测方法 |
摘要 |
本发明涉及读写头控制装置、存储装置和接触检测方法。该读写头控制装置通过加热器的热膨胀来控制用于从存储介质读数据和向存储介质写数据的读写头的位置,该读写头控制装置包括:加热器控制单元,其逐级地增加提供给加热器的电流;以及外力抽样获取单元,其获取分别表示沿读写头支撑机构的运动方向作用于读写头上的外力的大小的信号的抽样值。该读写头控制装置还包括:外力评价单元,每当加热器控制单元增加电流时,外力评价单元计算由外力抽样获取单元获取的抽样值的代表值,以评价外力的大小;以及接触检测单元,其通过将由外力评价单元得到的各个评价结果与预定的阈值进行比较,来检测读写头与存储介质之间的接触。 |
申请公布号 |
CN101236749A |
申请公布日期 |
2008.08.06 |
申请号 |
CN200710160021.X |
申请日期 |
2007.12.20 |
申请人 |
富士通株式会社 |
发明人 |
山下哲;齐藤俊二;阿部幸雄;柳茂知 |
分类号 |
G11B5/60(2006.01);G11B5/012(2006.01);G11B27/36(2006.01) |
主分类号 |
G11B5/60(2006.01) |
代理机构 |
北京三友知识产权代理有限公司 |
代理人 |
李辉;吕俊刚 |
主权项 |
1、一种读写头控制装置,该读写头控制装置用于通过加热器的热膨胀来控制用于从存储介质读数据以及向存储介质写数据的读写头的位置,该读写头控制装置包括:加热器控制单元,该加热器控制单元逐级地增加提供给所述加热器的电流;外力抽样获取单元,该外力抽样获取单元获取分别表示沿所述读写头的读写头支撑机构的运动方向作用于所述读写头上的外力的大小的信号的抽样值;外力评价单元,每当所述加热器控制单元增加所述电流时,该外力评价单元计算由所述外力抽样获取单元获取的抽样值的代表值,以评价所述外力的大小;以及接触检测单元,该接触检测单元通过将由所述外力评价单元得到的各个评价结果与预定的阈值进行比较,来检测所述读写头与所述存储介质之间的接触。 |
地址 |
日本神奈川县川崎市 |