测量半导体硅材料P/N型及电阻率的多功能测试仪

摘要

本实用新型涉及一种测量半导体硅材料P/N型及电阻率的多功能测试仪，包括多路输出控制变压器、整流电路、稳压电路，还包括单晶硅P/N型探针连接检测端口和单晶硅电阻率探针连接检测端口，单晶硅P/N型探针连接检测端口与多路输出控制变压器的一输出端连接，该探针连接检测端口还与整流电路、滤波电路连接，再接一运算放大器，运算放大器分别通过NPN和PNP型三极管与能够显示单晶硅P/N型的数码管驱动连接；单晶硅电阻率探针连接检测端口与整流电路、滤波、恒流稳压电路连接，整流电路与多路输出控制变压器的一输出端连接，电阻率探针检测端口还与显示电阻率的数字电压表连接。本实用新型结构简单、便携体积小、测量数据快稳、操作简单易行。

主权项

1. 一种测量半导体硅材料P/N型及电阻率的多功能测试仪，包括多路输出控制变压器、整流电路、稳压电路，其特征在于还包括单晶硅P/N型探针连接检测端口和单晶硅电阻率探针连接检测端口，单晶硅P/N型探针连接检测端口与多路输出控制变压器的一输出端连接，该探针连接检测端口还与整流电路、滤波电路连接，再接一运算放大器，运算放大器分别通过NPN或PNP型三极管与能够显示单晶硅P/N型的数码管驱动连接；单晶硅电阻率探针连接检测端口与整流电路、滤波、恒流稳压电路连接，整流电路与多路输出控制变压器的一输出端连接，电阻率探针检测端口还与显示电阻率的数字电压表连接。