发明名称 Parallel Bit Test apparatus and Parallel Bit Test method
摘要
申请公布号 KR100850208(B1) 申请公布日期 2008.08.04
申请号 KR20070002651 申请日期 2007.01.09
申请人 发明人
分类号 G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
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