发明名称 双面黏着胶带以及使用该胶带之IC晶片之制造方法
摘要
申请公布号 TWI299353 申请公布日期 2008.08.01
申请号 TW091111919 申请日期 2002.06.03
申请人 积水化学工业股份有限公司 SEKISUI CHEMICAL CO., LTD. 日本 发明人 井 宗;福冈 正辉;林 史;檀上 滋;大山 康彦;下村 和弘;长谷川 刚
分类号 C09J7/02 (2006.01) 主分类号 C09J7/02 (2006.01)
代理机构 代理人 桂齐恒 台北市中山区长安东路2段112号9楼;阎启泰 台北市中山区长安东路2段112号9楼
主权项 1.一种双面黏着胶带,其特征在于,系在至少一面上含有受光刺激会产生气体之气体产生剂,气体产生剂为偶氮化合物或迭氮化合物。2.一种双面黏着胶带,其特征在于,系在至少一面之仅表面部分含有受刺激会产生气体之气体产生剂,气体产生剂为偶氮化合物或迭氮化合物。3.如申请专利范围第1或2项之双面黏着胶带,其中,气体产生剂不以粒子状态存在。4.如申请专利范围第1项之双面黏着胶带,其中,偶氮化合物为以式(1)所表示之偶氮醯胺化合物,前述式(1)中,R1及R2分别代表相同或相异的低级烷基,R3代表碳数2以上的饱和烷基。5.如申请专利范围第2项之双面黏着胶带,其中,气体产生剂系仅在表面部分含有。6.如申请专利范围第1或2项之双面黏着胶带,其中,含有气体产生剂之黏着剂,系受刺激会使弹性模数上昇者。7.如申请专利范围第1或2项之双面黏着胶带,其中,含有气体产生剂之黏着剂,系受刺激会使黏着力降低者。8.如申请专利范围第1或2项之双面黏着胶带,其至少一面,系施加压花加工。9.如申请专利范围第1或2项之双面黏着胶带,其至少一面,系由可吸水之黏着剂构成。10.一种IC晶片之制造方法,系至少具有以下制程:透过申请专利范围第1、2、3、4、5、6、7、8或9项之双面黏着胶带,将晶圆固定于支持板之制程;于透过双面黏着胶带将晶圆固定于支持板之状态下,进行研磨之制程;对双面黏着胶带施予刺激之制程;及将双面黏着胶带自晶圆剥离之制程;其特征在于:在前述透过双面黏着胶带将晶圆固定于支持板之制程中,至少在与晶圆贴合的双面黏着胶带之面上,含有气体产生剂。11.一种IC晶片之制造方法,系至少具有以下制程:透过申请专利范围第1、2、3、4、5、6、7、8或9项之双面黏着胶带,将晶圆固定于支持板之制程;于透过双面黏着胶带将晶圆固定于支持板之状态下,进行研磨之制程;对双面黏着胶带施予刺激之制程;自贴合于晶圆之双面黏着胶带,将支持板剥离之制程;及将双面黏着胶带自晶圆剥离之制程;其特征在于:在前述透过双面黏着胶带将晶圆固定于支持板之制程中,至少在与支持板贴合的双面黏着胶带之面上,含有气体产生剂。12.如申请专利范围第10或11项之IC晶片之制造方法,系至少具有以下制程:透过申请专利范围第9项之双面黏着胶带,将晶圆固定于支持板之制程;于透过双面黏着胶带将晶圆固定于支持板之状态下,进行研磨之制程;对双面黏着胶带施予刺激之制程;及将双面黏着胶带自前述晶圆剥离之制程;其中,在前述透过双面黏着胶带将晶圆固定于支持板之制程中,系以双面黏着胶带之压花加工施加面与支持板贴合。13.如申请专利范围第10或11项之IC晶片之制造方法,其中,透过双面黏着胶带将晶圆固定于支持板之制程,系在晶圆与支持板之任一方上贴合双面黏着胶带后,或在晶圆与支持板的贴合位置上设置双面黏着胶带,于真空容器内在减压状态下,透过双面黏着胶带将晶圆与支持板实施贴合。14.如申请专利范围第13项之IC晶片之制造方法,其中,于真空容器内的减压,系在晶圆与支持板分离之状态下实施。15.如申请专利范围第10或11项之IC晶片之制造方法,系至少具有以下制程:透过申请专利范围第9项之双面黏着胶带,将晶圆固定于支持板上之制程;于透过双面黏着胶带将晶圆固定于支持板之状态下,进行研磨之制程;对双面黏着胶带施予刺激之制程;及将双面黏着胶带自晶圆剥离之制程;其中,在前述透过双面黏着胶带将晶圆固定于支持板之制程中,将双面黏着胶带之由可吸水的黏着剂构成之面与支持板贴合,系于由可吸水的黏着剂构成之面经水濡湿后,且水尚未被由可吸水的黏着剂构成之面完全吸收前实施。图式简单说明:图1表示晶圆与支持板于分离之状态下进行减压,在减压状态下实施贴合之装置的示意图。
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