发明名称 具有良好热膨胀系数效能之晶圆级封装及其方法
摘要 本发明系提供一种封装结构,包含基板,其具有预先形成之晶粒接收凹槽和/或终端接触金属垫,形成于基板之上部表面。晶粒则配置黏附于晶粒接收凹槽,而介电层则形成于晶粒与基板之上。至少一重分布增进层(re-distribution built up layer,简称RDL)形成于介电层之上,并透过接触焊垫耦合至晶粒。连接结构,诸如球底层金属(UBM)则形成于重分布增进层之上,而终端导电凸块则耦合至球底层金属(UBM)。
申请公布号 TW200832644 申请公布日期 2008.08.01
申请号 TW096147716 申请日期 2007.12.13
申请人 育霈科技股份有限公司 发明人 杨文焜;王东传;周昭男;林志伟
分类号 H01L23/485(2006.01) 主分类号 H01L23/485(2006.01)
代理机构 代理人 林静文
主权项
地址 新竹县湖口乡新竹工业区光复北路65号