| 摘要 |
本发明之静电耐压评估装置包括：施加装置10，其包括：第1连接部15，其可连接于源极驱动器120之输入端子或输出端子而将电荷赋予源极驱动器120、及第2连接部16，其可连接于与第1连接部15所连接之端子不同之端子而且可使所连接之端子接地，且该施加装置10系赋予脉冲性之电荷者；及共通连接部51，其可连接于源极驱动器120之复数个输出端子，而且将该等复数个输出端子电性汇集成1个；经由共通连接部51而将第1连接部15或第2连接部16连接于源极驱动器120之输出端子。藉此，更良好地再现半导体装置之故障状况，评估半导体装置对于静电破坏之耐受量。 |
