发明名称 离子束之诊断方法
摘要 本发明系有关于一种测量离子束特性的方法,例如测量离子束电流分布或离子束之发散度。其采用法拉第阵列进行测量,该法拉第阵列包括一离子束电流感测器阵列。该阵列可以在该阵列之平面上提供一离子束电流分布。该法拉第阵列也可与一阻挡元件并用,该阻挡元件可移动穿过该法拉第阵列上游的离子束,从而阻挡该离子束之不同部分照射该法拉第阵列。适当操作来自该法拉第阵列的讯号,以便判断该阻挡元件之平面的离子束电流分布,还可以判断出该阻挡元件之平面上的离子束发散度。
申请公布号 TW200832487 申请公布日期 2008.08.01
申请号 TW096139264 申请日期 2007.10.19
申请人 应用材料股份有限公司 发明人 瑞汀杰佛瑞;史密克希欧多尔H;萨卡斯塔高
分类号 H01J37/244(2006.01);H01J37/317(2006.01) 主分类号 H01J37/244(2006.01)
代理机构 代理人 蔡坤财;李世章
主权项
地址 美国