发明名称 程式化及抹除电阻式记忆体装置之方法
摘要 在写入资料至电阻式记忆体装置(resistive memory device)(130)(也就是,程式化或抹除)的第一方法中,连续的电位(electrical potential)系施加通过该电阻式记忆体装置(130),其中,该连续的电位(electrical potential)具有增加的持续时间(increasing duration)。在写入资料至电阻式记忆体装置(130)(也就是,程式化或抹除)的另一方法中,电位系施加通过该电阻式记忆体装置(130),而通过该记忆体装置(130)的电流位准(level)系于该电位被施加时被感测。该电位的施加是根据通过该电阻式记忆体装置(130)之选定的电流位准而结束。
申请公布号 TW200832420 申请公布日期 2008.08.01
申请号 TW096144903 申请日期 2007.11.27
申请人 史班逊有限公司 发明人 凡布斯科克 麦可;蔡薇;柯林 比尔S;吴怡静
分类号 G11C16/10(2006.01);G11C16/14(2006.01) 主分类号 G11C16/10(2006.01)
代理机构 代理人 洪武雄;陈昭诚
主权项
地址 美国