发明名称 | 整合扫描式光学量测方法 | ||
摘要 | 一种整合扫描式光学量测方法,系利用一多频混合光束之光学干涉量测手段,扫描量测一待测物件表面上之复数个量测位置之距离位置,藉以获得待测物件表面之轮廓全貌,该方法系依据上述之复数个量测位置而建立一水平扫描平面,并在该水平扫描平面上设定至少一水平扫描向量。同时,设定一垂直于该水平扫描向量之垂直扫描向量。接着,将水平扫描向量加上垂直扫描向量,藉以获得一整合扫描向量。最后,沿该整合扫描向量之方向对上述复数个量测位置进行扫描,以量测上述复数个量测位置之距离位置。 | ||
申请公布号 | TW200831850 | 申请公布日期 | 2008.08.01 |
申请号 | TW096103092 | 申请日期 | 2007.01.26 |
申请人 | 致茂电子股份有限公司 | 发明人 | 林耀明 |
分类号 | G01B11/24(2006.01) | 主分类号 | G01B11/24(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 李长铭 | |
主权项 | |||
地址 | 桃园县龟山乡华亚科技园区华亚一路66号 |