发明名称 整合扫描式光学量测方法
摘要 一种整合扫描式光学量测方法,系利用一多频混合光束之光学干涉量测手段,扫描量测一待测物件表面上之复数个量测位置之距离位置,藉以获得待测物件表面之轮廓全貌,该方法系依据上述之复数个量测位置而建立一水平扫描平面,并在该水平扫描平面上设定至少一水平扫描向量。同时,设定一垂直于该水平扫描向量之垂直扫描向量。接着,将水平扫描向量加上垂直扫描向量,藉以获得一整合扫描向量。最后,沿该整合扫描向量之方向对上述复数个量测位置进行扫描,以量测上述复数个量测位置之距离位置。
申请公布号 TW200831850 申请公布日期 2008.08.01
申请号 TW096103092 申请日期 2007.01.26
申请人 致茂电子股份有限公司 发明人 林耀明
分类号 G01B11/24(2006.01) 主分类号 G01B11/24(2006.01)
代理机构 代理人 李长铭
主权项
地址 桃园县龟山乡华亚科技园区华亚一路66号