发明名称 制造半导体装置之方法
摘要 一种制造一半导体装置之方法包括:在一半导体基板上形成一第一遮罩层;在该第一遮罩层上形成一第二遮罩层;图案化该第一遮罩层及该第二遮罩层,以分别形成一第一遮罩图案及一第二遮罩图案,该第一遮罩层及该第二遮罩层具有复数个第一开口;加宽该复数个第一开口之一上部部分,以形成一第二精细遮罩图案,该第二精细遮罩图案具有复数个第二开口,相对于该复数个第一开口之宽度,该复数个第二开口具有较大宽度;在该复数个第一开口与该复数个第二开口中形成一第三遮罩图案;移除该第二精细遮罩图案;及蚀刻该第一遮罩图案,以形成一第一精细遮罩图案。
申请公布号 TW200832510 申请公布日期 2008.08.01
申请号 TW096137718 申请日期 2007.10.08
申请人 三星电子股份有限公司 发明人 尹亨胄
分类号 H01L21/027(2006.01);H01L21/32(2006.01);H01L21/28(2006.01) 主分类号 H01L21/027(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文;林嘉兴
主权项
地址 韩国