发明名称 晶片侦错装置与方法
摘要 一种晶片侦错装置与方法,此装置包括远端控制器、除错单元与微处理器。其中,远端控制器透过一键盘介面输入中断点至晶片,而除错单元将中断点设置于多个指令中。当微处理器执行指令至中断点时,将暂停执行指令,并透过键盘介面输出执行指令所产生的多个变数至远端控制器,以进行晶片的侦错。
申请公布号 TW200831927 申请公布日期 2008.08.01
申请号 TW096101881 申请日期 2007.01.18
申请人 联阳半导体股份有限公司 发明人 侯庆敏;朱拱贤
分类号 G01R31/28(2006.01) 主分类号 G01R31/28(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区创新一路13号3楼