发明名称 | 晶片侦错装置与方法 | ||
摘要 | 一种晶片侦错装置与方法,此装置包括远端控制器、除错单元与微处理器。其中,远端控制器透过一键盘介面输入中断点至晶片,而除错单元将中断点设置于多个指令中。当微处理器执行指令至中断点时,将暂停执行指令,并透过键盘介面输出执行指令所产生的多个变数至远端控制器,以进行晶片的侦错。 | ||
申请公布号 | TW200831927 | 申请公布日期 | 2008.08.01 |
申请号 | TW096101881 | 申请日期 | 2007.01.18 |
申请人 | 联阳半导体股份有限公司 | 发明人 | 侯庆敏;朱拱贤 |
分类号 | G01R31/28(2006.01) | 主分类号 | G01R31/28(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区创新一路13号3楼 |