Optische Anordnung zur Phasenkontrast-Beobachtung

摘要

Die Erfindung bezieht sich auf eine optische Anordnung zur Phasenkontrast-Beobachtung einer Probe, insbesondere für Mikroskope, bei der in einem von der Probe kommenden Beobachtungsstrahlengang Flächenbereiche (8.1, 8.2, 9.1, 9.2) eines optischen Elements mit einer die Phase des Lichts beeinflussenden Beschichtung versehen sind, und in einem auf die Probe gerichteten Beleuchtungsstrahlengang eine Blendeneinrichtung vorhanden ist, deren Blendenöffnungen (11.1, 11.2) auf die beschichteten Flächenbereiche (8.1, 8.2, 9.1, 9.2) abgebildet werden. Erfindungsgemäß trägt mindestens ein Flächenbereich (8.1, 8.2) eine Beschichtung, die eine negative Verschiebung der Phase bewirkt, und mindestens ein weiterer Flächenbereich (9.1, 9.2) eine Beschichtung, die eine positive Verschiebung der Phase bewirkt. Die Blendeneinrichtung weist Blendenöffnungen (11.1, 11.2) auf, die veränderbar auf Flächenbereiche (8.1, 8.2) abgebildet sind, deren Beschichtung eine negative Verschiebung der Phase bewirkt, oder auf Flächenbereiche (9.1, 9.2) abgebildet sind, deren Beschichtung eine positive Verschiebung der Phase bewirkt.