发明名称 Li掺杂的p-Zn<SUB>1-x</SUB>Mg<SUB>x</SUB>O晶体薄膜及其制备方法
摘要 本发明公开的Li掺杂的p-Zn<SUB>1-x</SUB>Mg<SUB>x</SUB>O晶体薄膜,其MgO的摩尔含量x为0<x<20%,Li的摩尔含量y为0<y<2%,Li掺杂p-Zn<SUB>1-x</SUB>Mg<SUB>x</SUB>O晶体薄膜的载流子浓度为10<SUP>15</SUP>~10<SUP>19</SUP>cm<SUP>-3</SUP>。薄膜的制备采用脉冲激光沉积法,靶材是由高纯ZnO、MgO和Li<SUB>2</SUB>CO<SUB>3</SUB>粉末混合烧结的陶瓷靶,其中MgO的摩尔含量为0<x<20%,Li<SUB>2</SUB>CO<SUB>3</SUB>的摩尔含量为0<y<1%,在压强为0.1~50Pa的高纯氧气氛下生长,生长温度为400~700℃,掺杂浓度可以通过调节靶材中Li的含量控制。本发明以金属Li离子掺杂,固溶度高,受主能级浅,因此所得的p-Zn<SUB>1-x</SUB>Mg<SUB>x</SUB>O晶体薄膜具有良好的稳定性和可重复性。
申请公布号 CN100406620C 申请公布日期 2008.07.30
申请号 CN200610050688.X 申请日期 2006.05.11
申请人 浙江大学 发明人 叶志镇;张银珠;黄海辉;曾昱嘉
分类号 C30B23/00(2006.01);H01L33/00(2006.01) 主分类号 C30B23/00(2006.01)
代理机构 杭州求是专利事务所有限公司 代理人 韩介梅
主权项 1.Li掺杂的p-Zn1-xMgxO晶体薄膜,其特征在于MgO的摩尔含量x为0<x<20%,Li的摩尔含量y为0<y<2%,Li掺杂p-Zn1-xMgxO晶体薄膜的载流子浓度为1015~1019cm-3。
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