发明名称 软件动态聚类测试方法
摘要 软件动态聚类测试方法:(1)划分测试用例库为3类,第0类称为无效类,第1类为初始类,第2类称为有效类。开始时所有测试用例在第1类,其它两类均为空;(2)如果第2类不为空,则从第2类中随机选取一个测试用例进行测试,否则从第1类中随机选取一个测试用例进行测试;(3)如果从第I类(I=1,2)中选出的测试用例发现缺陷,则把这个测试用例放入第2类;否则将其放入第I-1类,如果I-1<0则放入第0类;(4)如果测试用例发现一个缺陷就立即剔除这个缺陷,如果测试用例发现多个缺陷,则随机选取一个缺陷剔除;(5)如果所有缺陷均已剔除或到达规定的测试步数就停止测试,否则转第(2)步。本发明方法简单,测试效率高。
申请公布号 CN100407161C 申请公布日期 2008.07.30
申请号 CN200410009530.9 申请日期 2004.09.09
申请人 北京航空航天大学 发明人 蔡开元;景涛;白成刚
分类号 G06F11/36(2006.01) 主分类号 G06F11/36(2006.01)
代理机构 北京科迪生专利代理有限责任公司 代理人 刘秀娟;成金玉
主权项 1.软件动态聚类测试方法,其特征在于按下列步骤进行测试:(1)划分测试用例库为3类,第0类称为无效类,第1类为初始类,第2类称为有效类,开始时所有测试用例在第1类,其它两类均为空;(2)如果第2类不为空,则从第2类中随机选取一个测试用例进行测试,否则从第1类中随机选取一个测试用例进行测试;(3)如果从第I类,I=1或2,中选出的测试用例发现缺陷,则把这个测试用例放入第2类;否则将其放入第I-1类,如果I-1<0则放入第0类;(4)如果测试用例发现一个缺陷就立即剔除这个缺陷,如果测试用例发现多个缺陷,则随机选取一个缺陷剔除;(5)如果达到测试停止条件就停止测试,否则转第(2)步。
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