发明名称 一种深刻蚀二氧化硅脊型波导及其制备工艺
摘要 本发明公开了一种深刻蚀二氧化硅脊型波导及其制备工艺。下包层、芯层和上包层依次沉积在衬底上。其刻蚀深度大于上包层和芯层总厚度,即上包层、芯层以及部分或全部下包层被刻穿。本发明采用二氧化硅薄膜沉积技术在衬底上依次沉积下包层、芯层和上包层,再利用深刻蚀技术,将上包层和芯层刻穿,并刻蚀部分或全部下包层。本发明的深刻蚀二氧化硅脊型波导增强了对光场的限制,能大大减小弯曲半径,极大地提高了光集成度。同时在三层薄膜沉积过程中,样片不取出薄膜沉积设备反应腔外,工艺流程上更为便利。
申请公布号 CN100406934C 申请公布日期 2008.07.30
申请号 CN200510060294.8 申请日期 2005.08.04
申请人 浙江大学 发明人 戴道锌;何赛灵
分类号 G02B6/036(2006.01);G02B6/136(2006.01) 主分类号 G02B6/036(2006.01)
代理机构 杭州求是专利事务所有限公司 代理人 林怀禹
主权项 1.一种深刻蚀二氧化硅脊型波导,依次包括上包层(1)、芯层(2)、下包层(3)和衬底(4),下包层(3)、芯层(2)和上包层(1)依次沉积在衬底(4)上;其特征在于:其刻蚀深度大于上包层(1)和芯层(2)总厚度,即上包层(1)、芯层(2)以及部分或全部下包层(3)被刻穿。
地址 310027浙江省杭州市西湖区浙大路38号