发明名称 |
一种深刻蚀二氧化硅脊型波导及其制备工艺 |
摘要 |
本发明公开了一种深刻蚀二氧化硅脊型波导及其制备工艺。下包层、芯层和上包层依次沉积在衬底上。其刻蚀深度大于上包层和芯层总厚度,即上包层、芯层以及部分或全部下包层被刻穿。本发明采用二氧化硅薄膜沉积技术在衬底上依次沉积下包层、芯层和上包层,再利用深刻蚀技术,将上包层和芯层刻穿,并刻蚀部分或全部下包层。本发明的深刻蚀二氧化硅脊型波导增强了对光场的限制,能大大减小弯曲半径,极大地提高了光集成度。同时在三层薄膜沉积过程中,样片不取出薄膜沉积设备反应腔外,工艺流程上更为便利。 |
申请公布号 |
CN100406934C |
申请公布日期 |
2008.07.30 |
申请号 |
CN200510060294.8 |
申请日期 |
2005.08.04 |
申请人 |
浙江大学 |
发明人 |
戴道锌;何赛灵 |
分类号 |
G02B6/036(2006.01);G02B6/136(2006.01) |
主分类号 |
G02B6/036(2006.01) |
代理机构 |
杭州求是专利事务所有限公司 |
代理人 |
林怀禹 |
主权项 |
1.一种深刻蚀二氧化硅脊型波导,依次包括上包层(1)、芯层(2)、下包层(3)和衬底(4),下包层(3)、芯层(2)和上包层(1)依次沉积在衬底(4)上;其特征在于:其刻蚀深度大于上包层(1)和芯层(2)总厚度,即上包层(1)、芯层(2)以及部分或全部下包层(3)被刻穿。 |
地址 |
310027浙江省杭州市西湖区浙大路38号 |