发明名称 磷化铟单晶的制造方法
摘要 为了得到晶片上性能均匀和稳定且使用寿命长的化合物半导体器件,本发明提供一种制造含掺杂剂的磷化铟单晶的方法,该方法包括:将横截面积为结晶体横截面积的15%或大于15%的晶种置于生长容器下端,以使所述晶体生长方向沿<100>取向;将含有所述晶种、磷化铟原料、掺杂剂和氧化硼的所述生长容器置于晶体生长室中,并将温度升高到等于或高于磷化铟的熔点;在加热并熔化氧化硼、磷化铟原料、掺杂剂和所述晶种的一部分后,降低所述生长容器的温度,以便沿所述生长容器纵向生长具有<100>取向的单晶。
申请公布号 CN101230488A 申请公布日期 2008.07.30
申请号 CN200710163422.0 申请日期 2004.05.06
申请人 住友电气工业株式会社 发明人 川瀬智博
分类号 C30B29/40(2006.01) 主分类号 C30B29/40(2006.01)
代理机构 北京天昊联合知识产权代理有限公司 代理人 顾红霞;张天舒
主权项 1.一种制造含掺杂剂的磷化铟单晶的方法,包括:将横截面积为结晶体横截面积的15%或大于15%的晶种置于生长容器下端,以使所述晶体生长方向沿<100>取向;将含有所述晶种、磷化铟原料、掺杂剂和氧化硼的所述生长容器置于晶体生长室中,并将温度升高到等于或高于磷化铟的熔点;在加热并熔化氧化硼、磷化铟原料、掺杂剂和所述晶种的一部分后,降低所述生长容器的温度,以便沿所述生长容器纵向生长具有<100>取向的单晶。
地址 日本大阪府大阪市