光学记录介质的缺陷检测电路与方法

摘要

一种用于光学记录介质的缺陷检测电路，包括：缺陷信号产生电路用于依据一光学记录介质的至少一个表面缺陷产生对应的至少一个缺陷信号、一第一同步信号产生器用于产生一第一同步信号、一缺陷信号定位电路、一延迟信号产生电路以及一或门。缺陷信号对应于表面缺陷包含至少一个脉冲，并且脉冲的脉冲宽度是对应于表面缺陷的实际宽度，延迟信号产生电路是在当两相邻脉冲的信号间距小于一预设值时产生对应于各脉冲的一延迟信号，该延迟信号将与缺陷信号脉冲进行一或运算以产生一缺陷延伸信号。通过第一同步信号与一用于分隔光学记录介质各数据记录区段的第二同步信号，表面缺陷的宽度与地址将可以顺利地被检测到。

主权项

1.一种用于光学记录介质的缺陷检测电路，包括：缺陷信号产生电路，用于依据光学记录介质的至少一个表面缺陷产生对应的缺陷信号，该缺陷信号包含至少一个脉冲并且该脉冲的脉冲宽度对应于该表面缺陷的实际宽度；缺陷信号定位电路；以及第一同步信号产生器，用于产生第一同步信号并将该第一同步信号传送到所述缺陷信号定位电路；其中所述光学记录介质包含有复数个数据记录区段，各所述数据记录区段以第二同步信号进行分隔，所述第二同步信号同样输入到所述缺陷信号定位电路，以与所述第一同步信号配合以检测所述表面缺陷在所述数据记录区段的地址与所述表面缺陷实际宽度。