| 发明名称 |
Semiconductor chip, comprising a monitoring device, which can be used to monitor whether the semiconductor chip is mechanically damaged |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP1486791(B1) |
申请公布日期 |
2008.07.30 |
| 申请号 |
EP20030013123 |
申请日期 |
2003.06.11 |
| 申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
VON WENDORFF, WILHARD CHRISTOPHORUS, DR. |
| 分类号 |
G01R31/303;G01R31/26;G01R31/28;H01L23/544 |
主分类号 |
G01R31/303 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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