发明名称 AMPLIFICATION CIRCUIT HAVING AN INTEGRATED TEST CIRCUIT
摘要 <p>Es wird eine integrierte Verstärker-Schaltungsanordnung bereitgestellt, die insbesondere auch bei Einsatz eines Operationsverstärkers hoher Präzision mit Offsetspannungen im Mikrovoltbereich getestet werden können. Die integrierte Schaltungsanordnung weist wenigstens einen Operationsverstärker (10) und ein dem Operationsverstärker (10) zugeordnetes Gegenkopplungsnetzwerk (40; 50) auf, welches während eines Testbetriebs des Operationsverstärkers zum Verstärken der Offsetspannung des Operationsverstärkers zuschaltbar ist.</p>
申请公布号 WO2008086997(A1) 申请公布日期 2008.07.24
申请号 WO2008EP00235 申请日期 2008.01.15
申请人 IC-HAUS GMBH;KRACK, BERNHARD;HERZ, MANFRED 发明人 KRACK, BERNHARD;HERZ, MANFRED
分类号 G01R31/316;H03F3/72;H03G3/12 主分类号 G01R31/316
代理机构 代理人
主权项
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