发明名称 |
AMPLIFICATION CIRCUIT HAVING AN INTEGRATED TEST CIRCUIT |
摘要 |
<p>Es wird eine integrierte Verstärker-Schaltungsanordnung bereitgestellt, die insbesondere auch bei Einsatz eines Operationsverstärkers hoher Präzision mit Offsetspannungen im Mikrovoltbereich getestet werden können. Die integrierte Schaltungsanordnung weist wenigstens einen Operationsverstärker (10) und ein dem Operationsverstärker (10) zugeordnetes Gegenkopplungsnetzwerk (40; 50) auf, welches während eines Testbetriebs des Operationsverstärkers zum Verstärken der Offsetspannung des Operationsverstärkers zuschaltbar ist.</p> |
申请公布号 |
WO2008086997(A1) |
申请公布日期 |
2008.07.24 |
申请号 |
WO2008EP00235 |
申请日期 |
2008.01.15 |
申请人 |
IC-HAUS GMBH;KRACK, BERNHARD;HERZ, MANFRED |
发明人 |
KRACK, BERNHARD;HERZ, MANFRED |
分类号 |
G01R31/316;H03F3/72;H03G3/12 |
主分类号 |
G01R31/316 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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