发明名称 一种LED屏坏点检测方法及其所用的电路
摘要 一种LED屏坏点检测方法及其所用的电路,通过在显示单元之间设置一条单向级连的检测信号线,保证坏点检测精确定位到单个LED。所述坏点检测电路包括频率检测电路、检测电阻、PMOS场效应管、差分运算放大器、比较器、基准电源、二极管和驱动器,其中,频率检测电路的输出端接PMOS场效应管的栅极,在PMOS场效应晶体管的源漏极之间连接检测电阻,检测电阻的两端连接差分运算放大器,差分运算放大器的输出端连接到比较器的正向输入端,比较器的反向输入端连接基准电源,输出端连接到二极管,二极管的另一端连接到检测信号线。
申请公布号 CN100405072C 申请公布日期 2008.07.23
申请号 CN200410070574.2 申请日期 2004.08.10
申请人 康佳集团股份有限公司 发明人 梁宁
分类号 G01R31/26(2006.01);G01R31/01(2006.01) 主分类号 G01R31/26(2006.01)
代理机构 信息产业部电子专利中心 代理人 齐苏平
主权项 1.一种LED屏坏点检测方法,包括:在LED屏的每个显示单元内提供坏点检测电路;在显示单元之间采用串行级连驱动方式提供图像数据、数据时钟和场同步信号;其特征在于:在显示单元之间设置一条单向级连的检测信号线;其中当检测开始时发送图像数据和数据时钟,并使场同步信号的周期为正常显示时的2倍,根据数据时钟和检测信号线的电平检测LED屏坏点。
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