发明名称 | 电子部件试验装置 | ||
摘要 | 一种为了试验被试验电子部件的电气特性,把被试验电子部件向接触部的插座(301a)传送,使上述被试验电子部件电气性连接该插座的电子部件试验装置,具备:拍摄插座的摄像单元(314);存储单元(319),存储由摄像单元拍摄取得的、没有安装被试验电子部件状态下的插座的基准图像数据;残留判定单元(318),由摄像单元取得插座的检查图像数据的同时,从存储单元读出基准图像数据,把这些检查图像数据与基准图像数据进行比较,判定在插座中是否残留着被试验电子部件。 | ||
申请公布号 | CN101228449A | 申请公布日期 | 2008.07.23 |
申请号 | CN200580051164.6 | 申请日期 | 2005.08.11 |
申请人 | 株式会社爱德万测试 | 发明人 | 池田克彦;市川雅理 |
分类号 | G01R31/26(2006.01) | 主分类号 | G01R31/26(2006.01) |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 吴丽丽 |
主权项 | 1.一种电子部件试验装置,是为了试验被试验电子部件的电气特性,把被试验电子部件传送到接触部的插座上,使上述被试验电子部件与该插座电连接的电子部件试验装置,其特征在于包括:摄像单元,拍摄上述插座;存储单元,存储由上述摄像单元拍摄取得的、在没有安装上述被试验电子部件状态下的上述插座的基准图像数据;和残留判定单元,在由上述摄像单元取得上述插座的检查图像数据的同时,从上述存储单元读出上述基准图像数据,把这些检查图像数据与基准图像数据进行比较,判定在上述插座中是否残留着被试验电子部件。 | ||
地址 | 日本东京 |