可测试集成电路，系统级封装和测试指令集

摘要

一种集成电路管芯，包括：多个互连，包括第一测试数据输入(142)、第二测试数据输入(144)和测试数据输出(152)；以及测试配置(100)，用于测试集成电路管芯。测试配置包括：另一复用器(150)，与测试数据输出(152)连接；复用器(140)，与第一测试数据输入(142)和第二测试数据输入(144)连接；多个移位寄存器(102，104，106，108)，包括指令寄存器(108)，每个移位寄存器均连接在复用器(140)和另一复用器(150)之间；以及控制器(110)，用于响应于指令寄存器(108)而控制复用器(140)和另一复用器(150)。这种测试配置通过提供SiP测试数据输入引脚与IC管芯的第二测试数据输入(144)之间和SiP测试数据输出与IC管芯的测试数据输出(152)之间的直接连接，方便了对系统级封装的符合JTAG的测试，从而方便了对SiP中的其他测试配置进行旁路。

主权项

1.一种集成电路管芯，包括：多个互连(112，114，132，142，144，152)，包括第一测试数据输入(142)、第二测试数据输入(144)和测试数据输出(152)；以及测试配置(100)，用于测试所述集成电路管芯，所述测试配置包括：复用器(140)，与第一测试数据输入(142)和第二测试数据输入(144)连接；另一复用器(150)，与测试数据输出(152)连接；多个移位寄存器(102，104，106，108)，包括指令寄存器(108)，每个移位寄存器均连接在所述复用器(140)和所述另一复用器(150)之间；以及控制器(110)，用于响应于指令寄存器(108)而控制所述复用器(140)和所述另一复用器(150)。