发明名称 INTEGRATED CIRCUIT TEST METHOD AND TEST APPARATUS
摘要
申请公布号 EP1946132(A1) 申请公布日期 2008.07.23
申请号 EP20060821206 申请日期 2006.10.23
申请人 NXP B.V. 发明人 VRANKEN, HENDRIKUS, P., E.
分类号 G01R31/3185 主分类号 G01R31/3185
代理机构 代理人
主权项
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