发明名称 |
靶装置及光检测装置 |
摘要 |
当光枪射出的光束击中安装在靶装置上的靶盘时,光束被基于在靶盘上光束的击中位置来产生电流的束检测点检测单元所检测。无关光检测单元基于作用于靶装置的无关光产生电流。束检测点检测单元产生的电流或基于此电流的电压,与无关光检测单元产生的电流或基于此电流的电压被提供给减法器,将无关光检测单元产生的电流或基于此电流的电压从束检测点检测单元产生的电流或基于此电流的电压中减去,并输出差电流或电压值。这样,无关光分量从束检测点检测单元产生的电流中被除去。之后,位置计算单元识别光枪射出的光束以及基于差电流或电压值检测在靶盘上光束的击中位置。 |
申请公布号 |
CN100405008C |
申请公布日期 |
2008.07.23 |
申请号 |
CN03109542.9 |
申请日期 |
2003.04.09 |
申请人 |
日本电气株式会社 |
发明人 |
安藤正;渡部洋士 |
分类号 |
G01B21/04(2006.01);F41J1/00(2006.01) |
主分类号 |
G01B21/04(2006.01) |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
朱进桂 |
主权项 |
1.一种靶装置,用于检测在靶盘上的光枪射出的光束的击中位置,所述靶装置包括:束检测点检测装置,用于检测击中靶盘的光枪射出的光束和无关光,并基于击中位置产生电流;无关光检测装置,用于只基于作用于靶装置上的无关光产生电流;以及电路装置,用于从由所述束检测点检测装置产生的电流或基于所述电流的电压中减去由所述无关光检测装置产生的电流或基于所述电流的电压,据此产生提取光分量,并识别所述光枪射出的光束及基于提取光分量,检测在所述靶盘上的光束的击中位置。 |
地址 |
日本东京都 |