| 发明名称 | 半导体装置,以及用于测试半导体装置的测试电路和测试方法 | ||
| 摘要 | 一种半导体装置包括CDR(时钟数据恢复)电路16以及频率跟踪控制电路(15)。该CDR(时钟数据恢复)电路(16)对与展频时钟同步输入的串行数据进行时钟数据恢复。该频率跟踪控制电路(15)控制该CDR电路能够跟踪的频率的带宽。 | ||
| 申请公布号 | CN101226221A | 申请公布日期 | 2008.07.23 |
| 申请号 | CN200810003472.7 | 申请日期 | 2008.01.17 |
| 申请人 | 恩益禧电子股份有限公司 | 发明人 | 中平政男 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01);H04L7/02(2006.01) | 主分类号 | G01R31/28(2006.01) |
| 代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 关兆辉;孙志湧 |
| 主权项 | 1.一种半导体装置，包括：CDR(时钟数据恢复)电路，被配置为对与展频时钟同步输入的串行数据进行时钟数据恢复；以及频率跟踪控制电路，被配置为控制所述CDR电路能够跟踪的频率的带宽。 | ||
| 地址 | 日本神奈川 | ||