发明名称 基于路径损耗数据的射频优化评估方法及装置
摘要 本发明公开了一种基于路径损耗数据的射频优化评估方法及装置,在上述方法中:对于每个射频优化方案,获取各个小区在相应关注位置的路径损耗覆盖信息;对于每个射频优化方案,根据各个小区的路径损耗覆盖信息和准备采用的射频参数,获得各个小区在相应关注位置的小区覆盖信息;对于每个射频优化方案,根据获得的小区覆盖信息,得到网络覆盖信息;根据网络覆盖信息对各个射频优化方案进行评估。通过本发明,可以在实施射频优化方案前准确地评估其可实现的覆盖性能,从而可以在射频优化方案实施之前评估/确定射频优化方案是否满足需求,从而可以避免由于射频优化方案的问题而对现网用户造成影响。
申请公布号 CN101217761A 申请公布日期 2008.07.09
申请号 CN200810000717.0 申请日期 2008.01.14
申请人 中兴通讯股份有限公司 发明人 张旭东
分类号 H04Q7/34(2006.01);H04B17/00(2006.01) 主分类号 H04Q7/34(2006.01)
代理机构 北京康信知识产权代理有限责任公司 代理人 尚志峰;吴孟秋
主权项 1.一种基于路径损耗数据的射频优化评估方法,其特征在于,包括:对于每个射频优化方案,获取各个小区在相应关注位置的路径损耗覆盖信息;对于每个射频优化方案,根据各个小区的所述路径损耗覆盖信息和准备采用的射频参数,获得各个小区在所述相应关注位置的小区覆盖信息;对于每个射频优化方案,根据获得的所述小区覆盖信息,得到网络覆盖信息;根据所述网络覆盖信息对各个射频优化方案进行评估。
地址 518057广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦