| 发明名称 | 光学拾取和/或记录设备 | ||
| 摘要 | 对于光学数据存储应用的情况，可以使用近场光学系统。在近场光学系统中，关键性的是将固体浸没透镜与光盘表面精确对准。通过利用辅助光束可以实现透镜与盘之间的倾斜校正。通过比较辅助光束的间隙信号可以确定空气间隙的高度和光盘的倾斜。 | ||
| 申请公布号 | CN101218641A | 申请公布日期 | 2008.07.09 |
| 申请号 | CN200680024577.X | 申请日期 | 2006.06.28 |
| 申请人 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 发明人 | F·齐普;C·A·弗舒伦 |
| 分类号 | G11B7/095(2006.01);G11B7/12(2006.01);G11B7/135(2006.01) | 主分类号 | G11B7/095(2006.01) |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 李亚非;谭祐祥 |
| 主权项 | 1.一种光学拾取和/或记录设备(1)，所述光学拾取和/或记录设备至少包括：适于将至少一辐射光束聚焦到存储介质(13)上的透镜元件(11)；适于改变所述透镜元件(11)的前表面(12)相对所述存储介质(13)的表面(14)的倾斜的移动机构(31，36)；适于至少间接地测量所述透镜元件(11)与所述存储介质(13)之间的间隙处由于受抑内全反射而反射的第一反射光束的强度和适于至少间接测量在所述间隙处反射的至少第二反射光束的强度的光束强度测量单元(25)；适于根据由所述光束强度测量单元(25)测得的所述第一反射光束的所述强度和由所述光束强度测量单元(25)测得的所述第二反射光束的所述强度确定所述透镜元件(11)的所述前表面(12)与所述存储介质(13)的所述表面(14)之间的倾斜的倾斜确定单元(26)；适于根据由所述倾斜确定单元(26)确定的所述透镜元件(11)的所述第一前表面(12)与所述存储介质(13)的所述表面(14)之间的所述倾斜控制所述移动机构使得所述透镜元件(11)的所述前表面(12)与所述存储介质(13)的所述表面(14)对准的控制单元(30)。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||