具有测试单元的电子电路

摘要

本发明提供了一种用于测试电子电路(100)和另一个电子电路的互连的测试配置。配置一个I/O节点(120)的第一选择以在电子电路(100)的一个功能模式中接收输入数据，并在电子电路(100)的测试模式中将I/O节点的第一选择与一个测试单元连接。测试单元包括一个用于实现一个多输入异或门或同或门的组合电路(160)。测试单元也通过逻辑门(141-144)提供I/O节点(120)的第一选择和I/O节点(130)的第二选择之间的互连。这些互连增加了电子设备(100)的互连测试覆盖，这是由于与另一个电子电路的互连也变为可测试的，另一个电子电路与I/O节点(131-134)相联系。

主权项

1.一种电子电路，包括：多个I/O节点，用于通过互连将所述电子电路与至少另一个电子电路连接；测试单元，用于在所述电子电路的测试模式中测试互连，所述测试单元包括具有多个输入和一个输出的组合电路，所述组合电路实现专用的逻辑功能；所述I/O节点在所述测试模式中与所述测试单元逻辑连接，其中：配置所述I/O节点的第一选择以传送相应的输入信号，并将所述I/O节点的第一选择与所述组合电路的多个输入连接；以及所述I/O节点的第二选择包括第一I/O节点，并配置所述I/O节点的第二选择以传送相应的输出信号，第一I/O节点与所述组合电路的输出连接；其特征在于：I/O节点的第二选择还包括在所述测试模式中不与任何组合电路的输出相连的第二I/O节点，所述第二I/O节点在所述测试模式中与来自I/O节点的第一选择的I/O节点耦合。