发明名称 离轴测量系统参考标记有效距离的标定方法
摘要 本发明提供了一种离轴测量系统中参考标记有效距离的标定方法。以y向参考标记有效距离为例,使用离轴测量系统的原有装置,通过将物料台旋转特定的角度Rz,多次测量其所对应物料x坐标位置获得平均值<img file="200710173714.2_ab_0.GIF" wi="82" he="38" />,根据参考标记有效距离gd.y和旋转角度、物料位置的几何关系公式见上式,利用测量参数的差值,抵消共有误差的方法,计算参考标记的有效距离。并且可以重复上述步骤获得平均值的方式消除随机误差的影响。使用本发明所述方法可以利用现有的离轴测量系统,有效精确的标定参考标记有效距离。
申请公布号 CN101216559A 申请公布日期 2008.07.09
申请号 CN200710173714.2 申请日期 2007.12.28
申请人 上海微电子装备有限公司 发明人 卜小建
分类号 G01S7/497(2006.01);G03F7/20(2006.01) 主分类号 G01S7/497(2006.01)
代理机构 上海智信专利代理有限公司 代理人 王洁
主权项 1.一种离轴测量系统参考标记有效距离的标定方法,用于离轴测量系统中参考标记有效距离的标定,其方法如下:(1)在测量现场建立离轴测量系统,确定参考标记模块的位置并加以固定,同时确定被测物料的位置并加以固定;(2)在参考标记模块上放置探测装置,并建立标记面的直角坐标系;(3)将一个带测量标记的被测物料放置在合适位置上,以标记面的坐标轴原点为圆心转动物料台一定角度R<sub>z</sub>,重复测量此时的物料位置的x坐标获得其平均值<img file="S2007101737142C00011.GIF" wi="194" he="59" />(4)重复第3步骤,获得多个旋转角度及其对应的物料位置x坐标平均值;(5)任选两组旋转角度与其对应的物料位置x坐标平均值,利用它们之间的差值消除共有误差;(6)根据公式:<maths num="0001"><![CDATA[<math><mrow><mi>gd</mi><mo>.</mo><mi>y</mi><mo>=</mo><mfrac><mrow><mo>(</mo><mover><mrow><mi>pos</mi><mo>_</mo><msub><mi>x</mi><mn>2</mn></msub></mrow><mo>&OverBar;</mo></mover><mo>-</mo><mover><mrow><mi>pos</mi><mo>_</mo><msub><mi>x</mi><mn>1</mn></msub></mrow><mo>&OverBar;</mo></mover><mo>)</mo></mrow><mrow><mo>(</mo><msubsup><mi>R</mi><mi>z</mi><mn>2</mn></msubsup><mo>-</mo><msubsup><mi>R</mi><mi>z</mi><mn>1</mn></msubsup><mo>)</mo></mrow></mfrac></mrow></math>]]></maths>计算出y向的参考标记有效距离gd.y;(7)重复第5步、第6步,计算获得y向的参考标记有效距离平均值<img file="S2007101737142C00013.GIF" wi="121" he="59" />(8)根据相同原理,变换坐标轴参数获得x向的参考标记有效距离平均值<img file="S2007101737142C00014.GIF" wi="118" he="60" />(9)储存标定结果,以备后续测量备用。
地址 201203上海市张江张东路1525号
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