| 发明名称 | 检测方法、检测装置及逻辑芯片 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种检测方法、检测装置及逻辑芯片，其中，该方法实施例包括：检测待测天线与同扇区内其它天线之间的隔离度；当待测天线与同扇区内其它天线之间的隔离度超过预设的隔离度门限值时，判断天线连接错误。本发明各实施例通过现有设备自身的反向功率检测通道，节省硬件成本，对反向功率检测通道接收的同扇区其它天线信号进行检测，可以直接判断天线是否连接错误，可有效解决现有技术中多扇区容易出现连接错误的问题及现有的检测方法工作量大、复杂，定位后施工难度大等问题。 | ||
| 申请公布号 | CN101217303A | 申请公布日期 | 2008.07.09 |
| 申请号 | CN200810056498.8 | 申请日期 | 2008.01.18 |
| 申请人 | 华为技术有限公司 | 发明人 | 李玉林 |
| 分类号 | H04B7/04(2006.01);H04L1/06(2006.01) | 主分类号 | H04B7/04(2006.01) |
| 代理机构 | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 | 代理人 | 刘芳 |
| 主权项 | 1.一种检测方法，其特征在于，包括：检测待测天线与同扇区内其它天线之间的隔离度；当待测天线与同扇区内其它天线之间的隔离度超过预设的隔离度门限值时，判断天线连接错误。 | ||
| 地址 | 518129广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼 | ||