发明名称 |
用于提供可控制的纹理采样的系统和方法 |
摘要 |
提供在计算机系统中用于控制对计算机图形进行的纹理采样的系统和方法。在各个实施例中,提供了用于控制纹理采样的改进的机制,它们能使3-D加速器硬件大大地提高呈现时的逼真度,包括针对下列各项的改进的机制:(1)运动模糊;(2)生成各向异性表面反射;(3)生成表面自投阴影;(4)光线投射容量采样;(4)自投阴影容量呈现和(5)自投阴影容量光线投射。在补充现有的纹理采样技术时,可以替换和/或修改用于纹理采样的参数。 |
申请公布号 |
CN100401325C |
申请公布日期 |
2008.07.09 |
申请号 |
CN03110560.2 |
申请日期 |
2003.04.10 |
申请人 |
微软公司 |
发明人 |
查尔斯·N·伯伊德;迈克尔·A·托利 |
分类号 |
G06T15/10(2006.01);G06T11/20(2006.01);G06T7/60(2006.01);G06F9/30(2006.01) |
主分类号 |
G06T15/10(2006.01) |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 |
代理人 |
付建军 |
主权项 |
1.一种提供可控制的纹理采样的方法,包括:通过具有图形处理单元的主机计算系统的图形子系统,借助主机计算系统的3-D图形应用程序编程接口API,指定在对纹理图进行纹理采样时利用的采样区域的至少一个参数;借助3-D图形API将所述至少一个参数传送到图形处理单元,以根据所述至少一个参数执行所述纹理采样;以及根据所述采样区域的所述指定参数对所述纹理图进行纹理采样。 |
地址 |
美国华盛顿 |